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基于表面活性剂增敏有序介孔SiO_2修饰碳糊电极测定L-色氨酸

文献类型： 中文期刊

作者： 谢丽萍 1 ; 蒋翠文 1 ; 王天顺 1 ; 莫磊兴 1 ; 李焘 1 ; 闫飞燕 1 ;

作者机构： 1.广西壮族自治区农业科学院农产品质量安全与检测技术研究所农业部甘蔗品质监督检验测试中心(南宁)

关键词： L-色氨酸;有序介孔二氧化硅;十二烷基磺酸钠;电化学检测

期刊名称： 分析化学

ISSN： 0253-3820

年卷期： 2016 年 09 期

页码： 1394-1401

收录情况： SCI ; 北大核心 ; CSCD

摘要： 利用水热法合成得到有序介孔二氧化硅(OMS),采用X射线衍射、N2吸附-脱附、透射电镜等技术对其进行了表征。制备OMS修饰碳糊电极(OMS/CPE),采用循环伏安和交流阻抗技术考察了修饰电极的电化学性能,发现与裸碳糊电极(CPE)相比,OMS/CPE具有更大的电活性面积和更快的电子传导速率。研究了L-色氨酸(L-Trp)在表面活性剂十二烷基磺酸钠(SDS)存在下,在OMS/CPE上的电化学行为和动力学性质,结果表明,OMS和SDS具有良好的协同作用,能明显增加L-Trp的响应信号;SDS存在下,L-Trp在修饰电极上的电化学氧化是2电子和2质子参加的不可逆过程,电极过程受吸附控制。优化了表面活性剂浓度、富集时间、富集电位、介质p H值等测定参数,在最优条件下,L-Trp氧化峰电流与其浓度在8.0×10~(-8)~4.0×10~(-6)mol/L范围内呈良好线性关系,检出限为7.0×10~(-8)mol/L(S/N=3)。本方法用于氨基酸口服液样品的加标回收检测,回收率为99.6%~102.6%。

  • 相关文献

[1]基于表面活性剂增敏有序介孔SiO2修饰碳糊电极测定L-色氨酸. 谢丽萍,蒋翠文,王天顺,莫磊兴,李焘,闫飞燕. 2016

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